Sicherstellung der Qualität in der Halbleiterfertigung mit fortschrittlichen Lösungen zur Lecksuche

Semiconductor manufacturing environment
Semiconductor chip with hands
Semiconductor chip with hands

Halbleiter spielen eine entscheidende Rolle in der heutigen Elektronikindustrie. Sie werden in Computern, Smartphones, Autos, Haushaltsgeräten, Spielkonsolen und medizinischen Geräten verwendet, und die steigende Nachfrage nach Chips erfordert präzise Herstellungsprozesse. Eine genaue Dichtheitsprüfung ist unerlässlich, um optimale Bedingungen zu schaffen und die Herausforderungen der Halbleiterindustrie zu meistern. Hier erfahren Sie, wie Lecksuchlösungen von INFICON zur Qualitätssicherung in der Halbleiterfertigung beitragen:

  • Vakuum aufrechterhalten: Eine präzise Lecksuche gewährleistet die Integrität der Vakuumbedingungen, die für Halbleiterprozesse entscheidend sind. Die Identifizierung und Behebung selbst kleinster Lecks ist unerlässlich, um die einzigartigen Eigenschaften von Halbleitern zu gewährleisten.
  • Erhalt der Reinraumbedingungen: Die Lecksuche mit Tracergas ist eine nicht kontaminierende Methode und steht im Einklang mit den Reinraumverfahren. Dadurch wird das Eindringen von Partikeln und Verunreinigungen verhindert und die strengen Reinheitsstandards von Halbleiter-Reinräumen gewährleistet.
  • Lokalisierung von komplexen Lecks: Hochentwickelte Technologien zur Lecksuche, einschließlich des Einsatzes von Tracergas, ermöglichen die effektive Lokalisierung von Lecks in komplexen Halbleiterwerkzeugen. Diese Fähigkeit ist entscheidend für die Identifizierung und Behebung von Lecks in verschiedenen Konfigurationen von Halbleiteranlagen.
  • Sicherstellung von Empfindlichkeit und Präzision: Eine präzise, hochempfindliche Dichtigkeitsprüfung gewährleistet die Identifizierung selbst kleinster Lecks. Dieses Maß an Genauigkeit ist essentiell für die Aufrechterhaltung der in Halbleiterfertigungsprozessen erforderlichen Reinheit, die Vermeidung von Defekten und die Gewährleistung der Produktqualität.
  • Materialkompatibilität: Lecksuchlösungen von INFICON sind so konzipiert, dass sie mit Halbleitermaterialien kompatibel sind. Dies ist entscheidend, um nachteilige Wechselwirkungen zu vermeiden, die die bei der Halbleiterherstellung verwendeten Materialien möglicherweise beschädigen oder verändern könnten.
  • Schnelle Erkennung von Lecks für einen hohen Durchsatz: Die bewährten Lecksuchsysteme von INFICON ermöglichen sehr schnelle und zuverlässige Ergebnisse und tragen so zu einem hohen Durchsatz in der Halbleiterfertigung bei. Die schnelle Identifizierung und Behebung von Lecks minimiert die Ausfallzeiten und gewährleistet eine optimale Produktionseffizienz.
  • Integration in automatisierte Systeme: Leckerkennungslösungen von INFICON lassen sich nahtlos in automatisierte Systeme integrieren und liefern Echtzeit-Feedback. Diese Integration ermöglicht eine kontinuierliche Überwachung, eine sofortige Reaktion auf Leckagen und trägt zur Gesamteffizienz der Anlagen in automatisierten Halbleiterfertigungsprozessen bei.
  • Kosteneffiziente Lösungen: INFICON ist bestrebt, kosteneffiziente Lösungen zur Lecksuche zu entwickeln, die ein Gleichgewicht zwischen Genauigkeit und Kostenerwägungen herstellen. Auf diese Weise können die Kosten in der Halbleiterfertigung gesenkt werden, ohne dass die Zuverlässigkeit beeinträchtigt wird.
operator holds wafer semiconductor manufacturing
operator holds wafer semiconductor manufacturing

Das Angebot von INFICON

INFICON bietet Leckdetektoren für Schnüffel- und Vakuum-Dichtheitsprüfung an, die bei der Herstellung von Halbleiterchips, in Produktionslinien für Solarzellen, Flachbildschirme, Glas- und Kunststofffolienbeschichtung und in Vakuumsystemen im Allgemeinen eingesetzt werden.

Die UL6000 Fab Serie ist das Flaggschiff unseres Portfolios mobiler UL Helium-Lecksucher. Sie wurde für die größeren Werkzeugvolumina in den neuesten Halbleiterfabriken und großen Beschichtungsanlagen entwickelt, die bei der Herstellung von Solarzellen, Flachbildschirmen und bei Roll-to-Roll oder verschiedene (web) Beschichtungsprozessen verwendet werden. Das Gerät liefert schnellste Reaktionszeiten in allen Messbereichen und bietet extrem kurze Testzeiten, was die Lecksuche genau, schnell und einfach macht. Seine geringe Stellfläche gewährleistet beste Manövrierbarkeit und ausreichenden Arbeitsraum in den engeren Platzverhältnissen der neuesten Halbleiterfabriken, um den kostspieligen Platz im Reinraum möglichst effizient zu nutzen.

UL6000-Fab-PLUS
UL6000-Fab-PLUS

Die mobilen Helium-Lecksuchgeräte der UL3000 Fab-Serie wurden speziell für die Anforderungen der Lecksuche der meisten Werkzeuge in modernen Halbleiterfabriken entwickelt. Er zeichnet sich durch Flexibilität, Mobilität, schnelle Inbetriebnahme, hohe Empfindlichkeit, schnelle und präzise Testergebnisse und Zuverlässigkeit aus. Seine geringe Stellfläche wie beim UL6000 Fab gewährleistet beste Manövrierbarkeit und optimalen Arbeitsraum in den engeren Platzverhältnissen moderner Fabriken.

UL3000-Fab-ULTRA
UL3000-Fab-ULTRA

Die mobilen Helium-Lecksuchgeräte der UL1000 Fab-Serie sind der renommierte Standard, wenn es um wirtschaftliche Helium-Vakuumlecktests in Industrie- oder Halbleiterumgebungen geht, insbesondere bei kleineren Kammervolumina. Das Gerät bietet den besten Kompromiss zwischen hoher Leistung, unvergleichlicher Robustheit und Erschwinglichkeit.

UL1000
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