Einbettung von Prozessintelligenz in die Lecksuche bei Langstreckenleitungen

Der Trägergasansatz für die Dichtheitsprüfung langer Rohre in Halbleiterfabriken.

sub-fab equipment

Moderne Halbleiterfabriken sind auf umfangreiche Netzwerke von ultrahochreinen Gas- und Flüssigkeitsverteilungssystemen angewiesen. Stickstoff, Wasserstoff, Sauerstoff, Argon, ultrareines Wasser und Spezialchemikalien werden über große Entfernungen durch hochentwickelte Rohrleitungssysteme transportiert, die sich über Reinräume und Subfabriken erstrecken.
Da die Reinheitsanforderungen oft über 99,999 % liegen und viele dieser Gase giftig, brennbar oder pyrophor sind, müssen diese Systeme höchsten Dichtheitsanforderungen entsprechen. Selbst mikroskopisch kleine Lecks können sich auf die Ausbeute, die Prozessstabilität, die Sicherheit und die Einhaltung gesetzlicher Vorschriften auswirken. Die Gewährleistung der Integrität langer Gasleitungen ist eine grundlegende Voraussetzung für eine hervorragende Halbleiterfertigung.

INFICON-Kompetenz: Schnellere, intelligentere Lecksuche für lange Gasleitungen

Um höchste Sicherheits- und Reinheitsstandards zu gewährleisten, setzen Halbleiterfabriken eine Kombination aus Inspektion, Prüfung und kontinuierlicher Überwachung der Rohrleitungssysteme ein. Lange Gasleitungen müssen vor der Inbetriebnahme nach der Installation oder Wartung auf extrem niedrige Leckraten von bis zu 1 × 10⁻⁷ mbar·l/s geprüft werden. Die herkömmliche Methode zur Überprüfung der Integrität von Gasversorgungsleitungen ist die Helium-Leckprüfung und umfasst:

  1. Evakuieren des Rohrinneren
  2. Besprühen der Außenfläche mit Helium
  3. Detektierung von Helium, das aufgrund von Druckunterschieden durch Undichtigkeiten in das System gelangt

Ergänzend zur Helium-Leckprüfung werden während des Betriebs Echtzeit-Gasanalysatoren eingesetzt, welche die Gasreinheit und den Gasdruck kontinuierlich überwachen und frühzeitig vor Abweichungen warnen, die auf einen Dichtheitsverlust hinweisen können.

Gas bottles installation
Gas bottles installation

Dieser Ansatz ist zwar sehr empfindlich, aber aufgrund der Komplexität des Rohrleitungssystems mit Herausforderungen verbunden, die mit zunehmender Länge und Durchmesser der Rohre wachsen. In langen oder komplexen Rohrleitungssystemen kann es sehr lange dauern, bis das Helium vom Ort des Lecks zum Detektor gelangt. Dies führt zu:

  • Längeren Testzeiten
  • Verzögerten Messsignalen
  • Verringerter Effizienz während des Baus oder der Erweiterung einer Fabrik

Diese Herausforderungen erfordern nicht nur bessere Werkzeuge, sondern auch fundiertes Anwendungswissen.

Trägergas: Intelligente Signalverbesserung

Mit jahrzehntelanger Erfahrung in der Unterstützung von Halbleiterfabriken weltweit verbessert INFICON die Standard-Leckageerkennung durch die Kombination bewährter Technologie mit fundierter Anwendungserfahrung.
Um die Herausforderungen herkömmlicher Helium-Sprühprüfungen an langen Gasleitungen zu überwinden, verbinden Experten die Helium-Lecksuche mit einem kontrolliertem Trägergasstrom. Selbst sehr geringe Trägergasflussraten in der Größenordnung von nur wenigen Standardkubikzentimetern pro Minute (sccm) können die Messgenauigkeit und -geschwindigkeit erheblich verbessern. Labortests belegen, dass Durchflussraten in der Größenordnung von ~100 sccm oft ausreichen, um die Signalintensität und -erkennung zu verbessern, ohne dass große Gasdurchflussmengen erforderlich sind oder grundlegende Testbedingungen geändert werden müssen.

 Bei dieser Methode wird:

  • Ein Trägergas (in der Regel Luft oder Stickstoff) an einem Ende des Rohrs zugeführt
  • Der Lecksucher am gegenüberliegenden Ende angeschlossen
  • Durch ein Leck eindringendes Helium sofort mit dem Trägergas vermischt
  • Das Gasgemisch schnell zum Detektor transportiert

Dieser Ansatz reduziert die Reaktionszeit erheblich, sodass Lecks innerhalb von Sekunden selbst in langen oder komplexen Rohrleitungssystemen erkannt werden können.

carrier gas drawing
carrier gas drawing
Durch die Mischung des Spürgases mit einem kontrollierten Trägergasstrom erreichen Anlageningenieure schnellere, empfindlichere und zuverlässigere Dichtheitsprüfungen – und gewährleisten so Sicherheit, Reinheit und Leistung, bevor die Gasleitungen überhaupt in Betrieb genommen werden.
Anja Sutorius
PhD, Applikationsingenieurin, INFICON

Bewährte Vorteile für Halbleiterfabriken

„Die Verwendung von Stickstoff als Trägergas bietet einen entscheidenden zusätzlichen Vorteil“, erklärt Anja Sutorius, Applikationsingenieurin bei INFICON. „Dadurch wird die Menge an Heliumrückständen in langen Gasleitungen deutlich reduziert, und dank des geringeren Helium-Hintergundsignals erzielt das System ein klareres Signal, eine höhere Erkennungsempfindlichkeit, eine schnellere Stabilisierung zwischen aufeinanderfolgenden Tests und ein deutlich geringeres Risiko der Verschleppung des Spürgases. Diese Verbesserung ist besonders in Reinraumumgebungen von Bedeutung, wo selbst geringe Heliumansammlungen andere Testabläufe oder empfindliche Prozessmessungen beeinträchtigen können.“ 

Darüber hinaus können Benutzer bei der Dichtheitsprüfung zwischen Luft und Stickstoff wählen, wodurch bei Bedarf eine inerte Umgebung aufrechterhalten werden kann.

Die fortschrittliche Lecksuchmethodik und Anwendungskompetenz von INFICON bieten messbare Vorteile:

  • Deutlich schnellere Lecksuche bei langen Rohren und erweiterten Systemen
  • Verbesserte Prüfzuverlässigkeit bei schwer zugänglichen oder komplexen Installationen
  • Erhöhte Empfindlichkeit durch reduzierten Heliumhintergrund
  • Geringerer Umwelteinfluss durch Minimierung der Spürgasverwendung
graph carrier gas GER
graph carrier gas GER

INFICON: Ein zuverlässiger Partner für Leistungsfähigkeit und Effizienz in der Halbleiterfertigung

INFICON ist mehr als nur ein Gerätezulieferer. Wir sind ein langjähriger Partner der Halbleiterindustrie und liefern innovative Lösungen zur Lecksuche, intelligente Sensoren und intelligente Fertigungssysteme, die einen schnelleren Produktionsstart, einen zuverlässigen Betrieb und ein optimiertes Ressourcenmanagement unterstützen.
Durch die Kombination von erstklassigen Instrumenten mit fundiertem Anwendungswissen helfen wir Halbleiterherstellern, Reinheit zu gewährleisten, Sicherheit zu garantieren und Spitzenleistungen zu erzielen – heute und in Zukunft.

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