INFICON、LDS Arnovaを発表
エアーまたはアルゴンを試験ガスとして使用する初の産業用リーク検出器
INFICONは、真空チャンバー内でエアーまたはアルゴンのいずれかを試験ガスとして使用できる世界初のリーク検出システム LDS Arnova,を発売し、産業用リークテストの新たな基準を打ち立てています。この革新的な技術により、製造業者は、圧力式手法の長年の技術的課題やヘリウム試験に伴う不安定な条件に対処しつつ、精度、処理能力、コスト効率という、これまでにない組み合わせを実現できます。
LDS Arnovaが他社と一線を画す理由
- 柔軟で将来性のある試験： 装置を変更することなく、周辺エアーまたはアルゴンを使用して、最もコスト効率の高い試験ガスを選択できます。
- 確実なリーク検出： 極めて低いリーク率（10⁻³～10⁻⁶ mbar·l/s）を検出することで、ごくわずかな欠陥も見逃しません。
- どこでも信頼できる結果： 温度変化があっても真空測定値は安定しているため、誤った測定値の発生が少なく、ダウンタイムも削減されます。
- 生産性の向上：圧力ベースの方法よりも高速かつ一貫性のある試験により、スループットが向上します。
- 運用コストの削減：アルゴンは、はるかに低価格でヘリウム並みの感度を実現します。一方、空気試験は、速度と経済性が最も重視される用途において、さらにコスト効率の高い選択肢となります。
- 微小漏れの検出速度向上：EcoBoostテクノロジーは、バックグラウンドの影響を補正することで検出を高速化します。
- 実証済みの産業用信頼性：長期的な堅牢性を実現する、定評のあるLDS3000プラットフォームを基盤としています。
- 容易な統合：高い接続性とモジュール設計により、設置と拡張が簡素化されます。
- 完全な下位互換性：性能要件が変化した場合でも、システムはいつでもLDS3000にアップグレード可能です。
圧力試験とヘリウムに代わる新たな選択肢
LDS Arnovaは、試験ガスとして空気を使用することで、10-3～10-4 mbar・l/sの範囲の漏れを検出可能です。これは、温度依存性、サイクル時間の遅さ、感度の限界といった課題を抱える従来の圧力変化法よりもはるかに優れた性能を提供します。
圧力ベースの手法と比較して、LDS Arnovaは以下の利点を提供します：
- より高い測定安定性、
- より速いサイクル時間、および
- 信頼性が高く再現性のある結果。
極めて微小な漏れ（10-5～10-6 mbar・l/s）の検出を必要とする用途において、LDS Arnovaはアルゴンを使用します。これにより、メーカーはヘリウム特有の供給やコストの問題を抱えることなく、ヘリウム並みの感度を実現できます。
大型部品、フレキシブル部品、または温度に敏感な部品に最適です
LDS Arnovaは、以下のような幅広い産業用途に対応するように設計されています：
- 使い捨て製品および大量生産される消費財
- 非医療用ヘルスケア製品
- 温度に敏感な熱交換器
- タンク、バッテリーハウジング、消火器などの大型部品
- 尿素タンクやプリンターカートリッジなど、加圧法では測定が困難な柔軟な部品
エアベースの真空試験により、熱的または機械的な変動が生じやすい材料であっても極めて安定した測定が可能であり、アルゴンによる補完により、従来はヘリウムを必要としていた極めて微小な漏れ率の測定にも対応できるようになりました。
実績あるLDS3000プラットフォームをベースに、エアーおよびアルゴン用に再設計
LDS Arnovaは、その堅牢性、精度、そして大量生産ラインへのシームレスな統合で世界的に知られる、INFICONの広く採用されているLDS3000プラットフォームをベースに開発されました。LDS Arnovaは、このプラットフォームの信頼性と接続性を維持しつつ、試験ガスとしてエアーとアルゴンの両方に対応できるよう、大幅に再設計されています。
「LDS Arnovaは、LDS3000をご存知の方なら誰もが親しみを感じられる一方で、新たなレベルの柔軟性と性能を実現しています」とBokanovic氏は述べています。「これは、当社のリークテスト製品群における次の進化のステップです」
EcoBoost：スマートなバックグラウンド補正によるテストの高速化
アルゴンガスと併用する場合、LDS ArnovaはINFICONの特許取得済みEcoBoostテクノロジーを搭載しています。このインテリジェントな信号処理アルゴリズムは、排気中に減少する試験ガスのバックグラウンドを継続的に評価することで、LDS Arnovaに以下の機能をもたらします：
- 微小なリークをより早期に検出
- サイクルタイムの短縮
- 自動生産ラインでのスループットの向上
LDS Arnovaは、固定のゼロ点校正を避け、代わりにバックグラウンド曲線の傾向を評価することで、高い感度を維持しながら真空リークテストを高速化します。
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