구독자 토론 포럼:
FabTime 뉴스레터, 제26권 제5호

오랜 친구이자 구독자가 이렇게 썼습니다: "제 우려 사항 중 하나는 지난 10년간 대중화되고 있는 AOI(자동 광학 검사)입니다. 요즘 우리 라인에서는 많은 AOI 장비를 사용합니다. AOI는 웨이퍼 표면 검사에는 효과적입니다. AOI 공정 시간이 길지 않음에도 불구하고, AOI 단계에서 긴 대기 시간을 경험합니다. AOI를 더 많이 사용할수록 수율은 향상될 수 있지만, 사이클 타임은 악화됩니다. 향후 호에서 AOI에 대해 다루어 주셨으면 합니다.”

제니퍼의 답변: 타이밍이 아주 좋습니다. 이번 호에서 사이클 타임과 수율 간의 상충 관계에 대해 논의할 계획이었거든요. 본문에 AOI(자동광학검사)에 대한 내용을 포함시키겠습니다.

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• 제26권 제5호 주요 기사: 팹 트레이드오프: 수율 향상을 위한 사이클 타임 증가
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