传感器和馈入件
SemiQCM® SR 用于半导体工艺监测的传感器
让卓越成为可重复的事

利用精确的速率和厚度监测来保护和增加您的利润
SemiQCM SR传感器是监测系统的一个组成部分,其他组成部分是IMM-200和FabGuard(版本19.12.00-a或更高)。
过程监测可用于半导体应用,通过监测前线或腔室排气中的前体数量,进行终点检测和故障排除。使用原位 QCM 可提供经济实惠的过程监测,并提高半导体过程的盈利能力。
只要有一块晶圆,就可以检测到前驱体无法输送到晶圆的故障。
功能
- 以 10 Hz 的速度监测 QCM 数据
- FabGuard 将 QCM 数据与工具状态和过程步骤联系起来
- 精确测量沉积或蚀刻率
- 用于亚单层厚度测量的敏感度和精度
优势
- 实时的、现场的过程监测
- 防止过度蚀刻,确定炉室清洁终点
- 识别设备或工艺状态故障
典型应用
- 中兴通讯
规格
最高温度 | 200°C |
传感器头尺寸(最大包络面) | 23.9 mm O.D. x 29.2 mm (0.94 in. O.D. x 1.15 in.) |
传感器长度(真空中) | 50–150 mm (1.97–5.91 in.) |
安装馈入件 | ISO KF/CF 法兰 |
材料 | |
本体和支架 | 304 不锈钢 |
弹簧 | 镀金铍铜(Au-Plated BeCu) |
同轴线缆 | 4.8 毫米(0.188 英寸)外径不锈钢 |
其他机械部件 | 18-8 或 304 不锈钢、镍 C276 |
绝缘体 | 真空部分为 >96% 氧化铝(Al₂O₃);其他部分使用特氟龙®(Teflon®) |
导线 | 真空中为镍(Ni),其他部分为镀镍铜(Ni 镀 Cu) |
焊料 | 适用于真空的高温镍铬合金 |
晶体 | 直径 14.0 毫米(0.551 英寸) |
易耗品
零件编号 | 描述 |
750-1090-G10 | SC切割传感器晶体,合金,10个装 |
750-1137-G5 | SC切割传感器晶体,氧化钇,5个装 |
750-1138-G5 | SC切割传感器晶体,氧化铝,5个装 |
备件
零件编号 | 描述 |
007-023 | 陶瓷固定架,前置传感器 |
750-7065-G1S | 14毫米SR锁定晶体支架备件 |
750-7069-G1S | 14毫米SR锁定传感器主体组件备件 |
750-7084-G1S | 14毫米SR晶体支架组件备件,氧化钇 |
750-7084-G2S | 14毫米SR晶体支架组件备件,氧化铝 |
750-7084-G3S | 14毫米SR晶体支架组件备件,合金 |
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