传感器和馈入件

SemiQCM® SR 用于半导体工艺监测的传感器

让卓越成为可重复的事

TDMAT-Sensor

利用精确的速率和厚度监测来保护和增加您的利润

SemiQCM SR传感器是监测系统的一个组成部分,其他组成部分是IMM-200和FabGuard(版本19.12.00-a或更高)。

 

过程监测可用于半导体应用,通过监测前线或腔室排气中的前体数量,进行终点检测和故障排除。使用原位 QCM 可提供经济实惠的过程监测,并提高半导体过程的盈利能力。

 

只要有一块晶圆,就可以检测到前驱体无法输送到晶圆的故障。

功能

  • 以 10 Hz 的速度监测 QCM 数据
  • FabGuard 将 QCM 数据与工具状态和过程步骤联系起来
  • 精确测量沉积或蚀刻率
  • 用于亚单层厚度测量的敏感度和精度

优势

  • 实时的、现场的过程监测
  • 防止过度蚀刻,确定炉室清洁终点
  • 识别设备或工艺状态故障

典型应用

  • 中兴通讯


 

规格

最高温度200°C
传感器头尺寸(最大包络面)23.9 mm O.D. x 29.2 mm (0.94 in. O.D. x 1.15 in.)
传感器长度(真空中)50–150 mm (1.97–5.91 in.)
安装馈入件ISO KF/CF 法兰
材料
本体和支架304 不锈钢
弹簧镀金铍铜(Au-Plated BeCu)
同轴线缆4.8 毫米(0.188 英寸)外径不锈钢
其他机械部件18-8 或 304 不锈钢、镍 C276
绝缘体真空部分为 >96% 氧化铝(Al₂O₃);其他部分使用特氟龙®(Teflon®)
导线真空中为镍(Ni),其他部分为镀镍铜(Ni 镀 Cu)
焊料适用于真空的高温镍铬合金
晶体直径 14.0 毫米(0.551 英寸)
在此下载完整的规格

易耗品

零件编号描述
750-1090-G10SC切割传感器晶体,合金,10个装
750-1137-G5 SC切割传感器晶体,氧化钇,5个装
750-1138-G5SC切割传感器晶体,氧化铝,5个装

备件

零件编号描述
007-023陶瓷固定架,前置传感器
750-7065-G1S14毫米SR锁定晶体支架备件
750-7069-G1S14毫米SR锁定传感器主体组件备件
750-7084-G1S14毫米SR晶体支架组件备件,氧化钇
750-7084-G2S14毫米SR晶体支架组件备件,氧化铝
750-7084-G3S14毫米SR晶体支架组件备件,合金
我们需要您的视频内容同意
更多信息