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FabTime通讯，第26卷，第5期

一位老朋友兼订阅用户写道：“我关注的焦点之一是AOI（自动光学检测），这项技术在过去十年间日益普及。如今我们的生产线已广泛采用多种AOI设备。AOI在检测晶圆表面方面表现优异。尽管单次检测耗时不长，但AOI工序的排队等待时间却相当漫长。增加AOI设备虽能提升良率，却会拖慢周期时间。期待您在后续刊物中探讨AOI相关议题。"

詹妮弗的回复： 您的提议时机恰到好处，因为我们正计划在本期探讨周期时间与良率之间的权衡关系。我们将把AOI纳入主文章的讨论范围。

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• 第26卷第5期主文章：精妙的权衡：更高的良率换取更长的周期时间
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